Las populares Jornadas del osciloscopio, que se celebrarán de nuevo en abril de 2025, proporcionan información esencial para ayudar a los ingenieros de diseño a abordar sus desafíos cotidianos, así como ideas para mantenerse a la vanguardia en un mundo cada vez más dependiente de la electrificación y la digitalización. El encuentro virtual durará dos medias jornadas e incluirá sesiones en línea teóricas y prácticas, presentaciones orientadas a la aplicación y debates interactivos con expertos de Rohde & Schwarz y empresas colaboradoras.
Rohde & Schwarz vuelve a organizar sus populares Jornadas del osciloscopio, que tendrán lugar durante dos medias jornadas los días 2 y 3 de abril de 2025. El encuentro tendrá un formato virtual y contará una vez más con la presencia de especialistas en osciloscopios de Rohde & Schwarz, así como de expertos de Würth Elektronik y PE-Systems, colaboradores habituales de las jornadas. Se retransmitirá en directo en inglés.
La cita de este año reconoce los desafíos a los que se enfrentan los ingenieros en la actualidad, entre otros la introducción de nuevas funciones en los dispositivos, la reducción al mínimo del consumo de energía, el peso y el tamaño, y la garantía de una interoperabilidad continua. Los expertos explicarán cómo lograr estos objetivos con ayuda de un osciloscopio, sondas y accesorios cuidadosamente seleccionados.
El primer día de las Jornadas de este año empezará con una ponencia en la que se describirá la interrelación necesaria entre las tecnologías de semiconductores para optimizar el rendimiento de un sistema de procesamiento de energía eléctrica y garantizar al mismo tiempo la conformidad de los productos. Leonardo Montoya, de Wolfspeed, explicará la estrecha relación existente entre los avances en la nueva microelectrónica y los dispositivos semiconductores de potencia. Además, analizará las importantes implicaciones para la integración en el nivel de sistema y presentará un itinerario claro para superar los desafíos.
La primera jornada continuará con una presentación en la que se explicará cómo elegir el mejor osciloscopio y la mejor sonda para una aplicación concreta. También se hablará del ancho de banda y de la frecuencia de muestreo requeridos, así como de los sistemas de disparo digital y de las velocidades de adquisición. Rohde & Schwarz también abordará aspectos básicos de las sondas, como sus diferentes tipos, su conexión al dispositivo examinado, su efecto en la señal y cómo leer la señal.
Los participantes podrán escuchar después a especialistas de Würth Elektronik y Rohde & Schwarz tratar cuestiones clave como las pérdidas de corriente alterna y los desafíos a la hora de probar dispositivos de banda prohibida ancha (WBG), como los de carburo de silicio (SiC) y nitruro de galio (GaN). La sesión sobre WBG se centrará en cómo seleccionar el equipamiento adecuado para satisfacer necesidades de prueba como velocidades de cambio de corriente y tensión más altas, controladores de puerta aislados y medidas de corriente de banda ancha. En la presentación también se describirán las mejores formas de aislar los equipos de medida y de determinar el nivel de aislamiento requerido. Por último, se abordarán los beneficios de utilizar una sonda con aislamiento óptico para medidas del lado alto (así como medidas de derivación de corriente).
El segundo día de las Jornadas empezará con un análisis en profundidad de la saturación de los inductores de potencia. También se presentarán las distintas funciones del osciloscopio MXO de Rohde & Schwarz, que destaca por su alto ancho de banda y elevada frecuencia de muestreo, y permite obtener medidas de corriente y análisis de formas de onda con mayor precisión. Ponentes de Würth Elektronik y PE-Systems examinarán los efectos de diferentes temperaturas, y el impacto de la construcción y el material del núcleo. Después analizarán cómo usar las pruebas de doble pulso en un enfoque basado en modelos para obtener diseños sólidos en ciclos de desarrollo cortos, especialmente en la electrónica de potencia.
Las posteriores demostraciones en vivo de esa misma mañana se centrarán en el análisis de integridad de las señales NRZ (sin retorno a cero) y PAM (modulación por amplitud de pulsos) en sistemas digitales de alta velocidad, abarcando soluciones avanzadas de test para el análisis PAM, ecualización e integración para optimizar la fidelidad de la señal.
La sesión final abordará en detalle la depuración de interferencias electromagnéticas (EMI) y las medidas de conformidad previa, así como procesos que ya no supondrán una gran inversión de tiempo ni serán caros. En una demostración práctica, expertos de Rohde & Schwarz examinarán herramientas y técnicas típicas que pueden ayudar a identificar y resolver rápidamente problemas de EMI para reducir los costes y aumentar la eficiencia. También se mostrará cómo realizar con un analizador de espectro y un osciloscopio medidas de conformidad previa de emisiones conducidas.
Philip Diegmann, vicepresidente del área de osciloscopios de Rohde & Schwarz, apunta: «Nos complace colaborar estrechamente con nuestros aliados para organizar encuentros como las Jornadas del osciloscopio en los que poder compartir los últimos descubrimientos con la comunidad de ingenieros de desarrollo y apoyarles en sus tareas cotidianas. Estas jornadas se centrarán en los principios básicos para los recién llegados a la profesión, pero también en los métodos y las tecnologías más recientes para ingenieros más experimentados que deben hacer frente a desafíos de medida cada vez mayores».
