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NI: Optimización de sistemas de pruebas automatizados

By 10 julio, 2013 No Comments

Optimización de sistemas de pruebas automatizados con fuentes de alimentación programables NI PXI
Ahorre espacio en el rack y simplifique el diseño de sistemas con módulos que ofrecen la mayor densidad de potencia en la plataforma PXI
AUSTIN, Texas – 20 de mayo de 2013 – National Instruments ha anunciado hoy sus nuevas fuentes de alimentación programables de propósito general, que ofrecen la más alta densidad de potencia disponible en PXI y forman la base de los sistemas de prueba automatizados. Los módulos NI PXI-4112 y NI PXIe-4113 proporcionan una alta densidad de potencia que ahorra espacio en el rack al mismo tiempo que simplifican el diseño eliminando la necesidad de mezclar múltiples formatos presentes en la instrumentación. Cuando se programa con el software NI LabVIEW y se empareja con una serie de instrumentos con hardware PXI, las nuevas fuentes de alimentación pueden ayudar a los ingenieros a crear una solución completa y personalizada.