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El NI PXI-4139 ofrece una frecuencia de muestreo 100 veces superior con al menos el doble de la densidad de canales que otros instrumentos similares.
 

AUSTIN, Texas – 25 de febrero 2014 – National Instruments (Nasdaq: NATI) ha anunciado hoy la SMU (Source Measure Unit) PXIe-4139 de NI, una adición de altas prestaciones a la cartera de SMUs de la compañía. Esta SMU puede reducir el coste total de las pruebas y acelerar el tiempo de lanzamiento de productos al mercado por parte de los ingenieros de prueba y está dedicada a una amplia gama de industrias, desde semiconductores hasta la electrónica de automoción y consumo.
 

“Gracias a la SMU NI PXI-4139 los ingenieros y los científicos conseguirán amplios límites I-V, incluyendo una capacidad ampliada del rango de tensiones pulsadas de hasta 500 W y una sensibilidad de hasta 100 fA, que permitirá realizar pruebas de una amplia gama de dispositivos con un solo instrumento,” dijo Luke Schreier, director senior del grupo de sistemas de prueba de National Instruments. ”El tamaño compacto de la SMU NI PXI-4139 es también importante. Se puede reducir significativamente el tamaño del sistema en comparación con las SMUs tradicionales”.
 

La SMU NI PXI -4139 cuenta con la tecnología NI SourceAdapt para ayudar a los ingenieros a producir una óptima respuesta de la SMU a cualquier carga mediante la personalización del bucle de control de la SMU. Esto protege a los dispositivos bajo prueba y mejora la estabilidad del sistema. Además, el sistema de SMU NI PXI -4139 puede tomar medidas a 1,8 MS/s, lo cual es 100 veces más rápido que las SMUs tradicionales. Esto ayuda a reducir el tiempo de prueba y ofrece a los ingenieros la capacidad de capturar el comportamiento transitorio del dispositivo sin un osciloscopio externo.
 

“Si se quiere mantener el ritmo de la creciente complejidad de la electrónica moderna es necesario redefinir el enfoque de la instrumentación,”dijo Schreier”. La tecnología SourceAdapt, junto con las ventajas inherentes a la instrumentación modular PXI y el software de diseño de sistemas NI LabVIEW, proporcionan a los ingenieros una ventaja competitiva en cuanto a la reducción de los tiempos de prueba y a la protección de los dispositivos bajo prueba.”

Características principales:
 
Sensibilidad en la medida de corrientes de 100 fA: Caracterización precisa de dispositivos semiconductores de altas prestaciones.
 
Frecuencia de muestreo de 1.8 MS/s: Captura características transitorias de los dispositivos sin un osciloscopio externo.
 
Hasta 17 canales de SMU en un espacio de rack 4U de 19 pulgadas: Minimiza el tamaño del sistema de prueba para sistemas con un número elevado de canales.
 
Tecnología SourceAdapt: Reduce los tiempos de los transitorios para mejorar los tiempos totales de la prueba y proteger el dispositivo bajo prueba de sobreimpulsos y oscilaciones aún en el caso de cargas altamente inductivas o capacitivas.
 

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