Los sistemas integrados son el núcleo de los dispositivos electrónicos modernos y están presentes en etapas de entrada de potencia, tarjetas impresas de control central, motores, controles de motor, sensores e interfaces de usuario. Cada bloque funcional requiere pruebas exhaustivas para garantizar un rendimiento y una fiabilidad óptimos, así como agilizar el lanzamiento al mercado del producto final. Con su amplio catálogo de soluciones avanzadas de test, Rohde & Schwarz ayuda a los diseñadores a enfrentar los retos asociados a los sistemas integrados: desde la eficiencia energética y las interferencias electromagnéticas hasta el diseño digital y la conectividad.
Rohde & Schwarz presentará en la exposición y conferencia Embedded World, que se celebrará en Núremberg (Alemania), sus avanzadas soluciones de test y medida para el sector de los sistemas integrados. Los visitantes podrán encontrar a la empresa especializada en instrumentación en el estand 4-218, situado en el pabellón 4 del Centro de exposiciones de Núremberg, entre el 11 y el 13 de marzo de 2025. Durante este evento, los visitantes tendrán la oportunidad de conversar con los expertos de la empresa e informarse sobre las últimas tecnologías diseñadas para mejorar la eficiencia energética de los dispositivos, agilizar la conformidad de EMC dentro del proceso de diseño, acelerar la depuración de protocolos digitales y cumplir la normativa oficial relativa a las interfaces inalámbricas.
Eficiencia energética y fiabilidad en electrónica de potencia
Con las series MXO 4 y MXO 5, y la serie MXO 5C optimizada para la instalación en rack, Rohde & Schwarz presentará en la Embedded World su gama en constante crecimiento de osciloscopios de última generación. Los visitantes también podrán conocer R&S ScopeStudio, una nueva solución que traslada la funcionalidad del MXO a un PC, con lo que resulta más fácil visualizar, analizar y compartir medidas del osciloscopio. En combinación con las correspondientes sondas activas y pasivas de alta calidad, los osciloscopios MXO, extraordinariamente rápidos, ayudan a los desarrolladores a mejorar la fiabilidad de sus diseños de electrónica de potencia y otros sistemas integrados.
El osciloscopio MXO 5 de ocho canales, por ejemplo, ofrece en combinación con el sistema de sondeo con aislamiento R&S RT-ZISO una precisión, una sensibilidad, un rango dinámico y un ancho de banda sin precedentes. Estas características lo convierten en la solución ideal para la caracterización, verificación y depuración de los diseños de electrónica de potencia de banda prohibida ancha (WBG) de última generación. Materiales WBG como SiC y GaN aumentan la eficiencia de los diseños de electrónica de potencia, pero exigen una caracterización a fondo de la capacidad de conmutación rápida de los semiconductores WBG. En otra configuración podrá comprobarse cómo simplifica el osciloscopio MXO 5 la validación del diseño de convertidores reductores multifásicos, contribuyendo así a obtener resultados fiables. Los convertidores reductores multifásicos SoC de alta velocidad ofrecen ventajas operativas para aplicaciones del big data y otras aplicaciones que requieren tensiones bajas, corrientes altas y tiempos de conmutación rápidos.
La autonomía de la batería es una característica decisiva de los dispositivos alimentados por batería. Los visitantes podrán comprobar el impacto del GPS en el consumo energético en tiempo real en una configuración de simulación de baterías que utiliza la unidad de medida de fuente R&S NGU. Con una nueva herramienta de análisis, los desarrolladores pueden examinar los datos de consumo de energía recopilados con la unidad R&S NGU y medir el consumo de corriente durante todas las fases y transiciones del modo de reposo al modo activo.
Depuración de emisiones electromagnéticas y ensayos de conformidad de EMI
Todos los controladores electrónicos son sensibles a las emisiones electromagnéticas conducidas o radiadas. Una depuración temprana ayuda a aislar y corregir problemas de EMI y permite acortar el tiempo de lanzamiento al mercado. Como líder en instrumentación para ensayos de EMC, Rohde & Schwarz presentará soluciones que integran los ensayos de EMI en el proceso de desarrollo del producto. Los asistentes tendrán la oportunidad de aprender a usar el osciloscopio R&S RTO6 para la depuración de EMI o el receptor de medidas EMI R&S EPL1000 para medidas EMI conducidas. El R&S EPL1000 ofrece medidas rápidas, precisas y fiables para ensayos de conformidad previa y conformidad de emisiones electromagnéticas hasta 30 MHz. El receptor totalmente conforme con el estándar CISPR 16-1-1 responde a las necesidades tanto de los desarrolladores de dispositivos como de los centros de certificación a un precio muy competitivo dentro de esta categoría.
Verificación de integridad de señales en diseños digitales de alta velocidad
Las interfaces digitales de alta velocidad son un elemento clave de los diseños electrónicos, con velocidades de datos y densidades de integración cada vez mayores que plantean nuevos desafíos en el nivel de circuitos integrados, tarjetas y sistemas. Los visitantes de la feria podrán conocer en el estand de Rohde & Schwarz potentes herramientas para la verificación y depuración de sistemas, así como para ensayos de conformidad de interfaces, tarjetas impresas e interconexiones de alta velocidad. Con el osciloscopio R&S RTP164B se demostrarán potentes herramientas de verificación y depuración para diseños de sistemas DDR5 y dispositivos MGBase-T1 de Ethernet automotriz.
Rohde & Schwarz presentará en primicia en la Embedded World el nuevo analizador de redes vectoriales R&S ZNB3000. Este novedoso analizador de redes vectoriales establece nuevos estándares de velocidad, precisión y versatilidad. Con su gama dinámica única en el sector, alta velocidad de medida y actualizaciones escalables, es ideal para las aplicaciones más exigentes, como aplicaciones de transmisión de datos y de integridad de la señal. Los visitantes podrán comprobar en primera persona métodos avanzados de compensación del instrumento que permiten realizar medidas precisas y eficientes de parámetros S. Estos métodos permiten realizar de forma intuitiva la caracterización del adaptador de fijación, la extracción de los parámetros S y la compensación del adaptador.
Pruebas de Bluetooth y de conectividad inalámbrica
Bluetooth® es la tecnología líder para comunicaciones inalámbricas de corto alcance y bajo consumo energético. Con la plataforma CMW, Rohde & Schwarz ofrece una completa solución de test totalmente automática aprobada por el Bluetooth® SIG que permite verificar las nuevas funciones de la capa física de Bluetooth® Low Energy (LE) y Bluetooth® Classic. La plataforma de pruebas de conectividad inalámbrica R&S CMW270, que se exhibirá en la Embedded World, verificará la nueva función LE (de baja energía) Bluetooth® Channel Sounding (CS), que mejora la capacidad de determinación de la posición de dispositivos mediante medidas de distancia de alta precisión.
La próxima generación de tecnología WLAN, diseñada para alcanzar un caudal de datos extremadamente alto, será más potente y eficiente, pero también más compleja. El comprobador de radiocomunicaciones R&S CMP180 está preparado para el futuro y es perfecto para realizar medidas típicas en dispositivos NR FR1, UWB, Wi-Fi 7 y los primeros dispositivos Wi-Fi 8 durante las fases de I+D y producción. Las nuevas funciones del comprobador sin señalización que se exhibirá en la Embedded World incluirán medidas de Wi-Fi 8 y UWB centradas en la producción.
Estas y otras soluciones adaptadas al sector de los sistemas integrados se podrán conocer en el estand 4-218 de Rohde & Schwarz, ubicado en el pabellón 4 de la exposición y conferencia Embedded World, que se celebrará entre el 11 y el 13 de marzo de 2025 en Núremberg (Alemania).
